| 全部作者 | 黄至尧 |
|---|---|
| 论文名称 | 应力诱发界面陷阱与氧化层陷阱电荷对 High-K / Metal Gate Ge- pMOSFETs的退化影响 |
| 研讨会名称 | 第19届台湾静电放电防护技术暨可靠度技术研讨会 |
| 举行地点 | 中华民国台湾新竹 |
| 会议开始时间 | 2021-11-03 |
| 会议结束时间 | 2021-11-05 |
| 作者顺序 | 第四(以上)作者 |
| 全部作者 | 黄至尧 |
|---|---|
| 论文名称 | 应力诱发界面陷阱与氧化层陷阱电荷对 High-K / Metal Gate Ge- pMOSFETs的退化影响 |
| 研讨会名称 | 第19届台湾静电放电防护技术暨可靠度技术研讨会 |
| 举行地点 | 中华民国台湾新竹 |
| 会议开始时间 | 2021-11-03 |
| 会议结束时间 | 2021-11-05 |
| 作者顺序 | 第四(以上)作者 |
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