| 第21屆台灣靜電放電防護技術暨可靠度技術研討會 |
中華民國台灣新竹 |
主要次要型整合矽控整流器之雙極電晶體靜電防護電路 |
第一作者 |
2023.11.01 ~ 2023.11.03 |
| 第20屆台灣靜電放電防護技術暨可靠度技術研討會 |
中華民國台灣新竹 |
硼摻雜氧化鋅的陷阱能階研究 |
第四(以上)作者 |
2022.11.02 ~ 2022.11.04 |
| 第19屆台灣靜電放電防護技術暨可靠度技術研討會 |
中華民國台灣新竹 |
硼摻雜氧化鋅薄膜電阻式記憶體特性研究 |
第四(以上)作者 |
2021.11.03 ~ 2021.11.05 |
| 第19屆台灣靜電放電防護技術暨可靠度技術研討會 |
中華民國台灣新竹 |
應力誘發界面陷阱與氧化層陷阱電荷對 High-K / Metal Gate Ge- pMOSFETs的退化影響 |
第四(以上)作者 |
2021.11.03 ~ 2021.11.05 |
| 第 18 屆台灣靜電放電防護技術暨可靠度技術研討會 |
中華民國新竹市 |
低電壓觸發內嵌浮接P型金氧半整合矽控整流之雙極電晶體 |
第一作者 |
2019.11.06 ~ 2019.11.08 |
| 第 18 屆台灣靜電放電防護技術暨可靠度技術研討會 |
中華民國新竹市 |
P型鍺金氧半場效電晶體之研究 |
第四(以上)作者 |
2019.11.06 ~ 2019.11.08 |
| 第17屆台灣靜電放電防護技術暨可靠度技術研討會 |
中華民國新竹市 |
P型鍺金氧半電晶體具有二氧化鉿閘極介電層之負偏壓溫度不穏定性 |
第三作者 |
2018.11.07 ~ 2018.11.09 |
| 16屆台灣靜電放電防護技術暨可靠度技術研討會 |
中華民國新竹市 |
P型鍺金氧半電晶體具有二氧化鉿閘極介電層之負偏壓溫度不穩定性 |
第四(以上)作者 |
2017.11.01 ~ 2017.11.03 |
| 2017年24屆國際積體電路物理/故障分析研討會 |
大陸地區四川成都 |
Inserted Substrate Pickup Style with External Resistance in an ESD NMOS Transistor |
第一作者 |
2017.07.04 ~ 2017.07.07 |
| 第15屆台灣靜電放電防護技術暨可靠度技術研討會 |
中華民國台灣省新竹市 |
Trap exploration and conductance quantization in phosphorus-doped zinc oxide films |
第四(以上)作者 |
2016.10.31 ~ 2016.11.02 |
| 第15屆台灣靜電放電防護技術暨可靠度技術研討會 |
中華民國新竹市 |
N型金氧半靜電元件中具備外接電阻的置入型基底接觸點佈局樣態 |
第一作者 |
2016.10.31 ~ 2016.11.02 |
| 第14屆台灣靜電放電防護技術暨可靠度技術研討會 |
中華民國新竹市交通大學 |
具有閘極二極體的高鎖定免疫整合矽控整流器雙極電晶體 |
第一作者 |
2015.11.02 ~ 2015.11.04 |
| 第14屆台灣靜電放電防護技術暨可靠度技術研討會 |
中華民國新竹市交通大學 |
硼摻雜氧化鋅薄膜電流傳導機制與可靠度特性分析 |
第四(以上)作者 |
2015.11.02 ~ 2015.11.04 |
| 第13屆台灣靜電放電防護技術暨可靠度技術研討會 |
中華民國新竹市 |
內嵌浮接P型金氧半電晶體之整合矽控整流器雙極電晶體的靜電與鎖定性能最佳化 |
第一作者 |
2014.11.03 ~ 2014.11.05 |
| 第13屆台灣靜電放電防護技術暨可靠度技術研討會 |
中華民國新竹市 |
Resistive switching and device reliability in ZnO-based nonvolatile memory devices |
第二作者 |
2014.11.03 ~ 2014.11.05 |
| 第12屆台灣靜電放電防護技術暨可靠度技術研討會 |
中華民國新竹市 |
深次微米製程中一個高鎖定免疫的靜電整合矽控整流器雙極電晶體 |
第一作者 |
2013.11.04 ~ 2013.11.06 |
| 第12屆台灣靜電放電防護技術暨可靠度技術研討會 |
中華民國新竹市 |
電阻式記憶體之組態轉換循環容忍度特性 |
第四(以上)作者 |
2013.11.04 ~ 2013.11.06 |
| 20th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits |
大陸地區江蘇省蘇州 |
A High Latchup - Immune ESD Protection SCR- Incorporated BJT in Deep Submicron Technology |
第一作者 |
2013.07.17 ~ 2013.07.19 |
| 2013 光電與通訊研討會 |
中華民國桃園縣中壢市 |
二階段式名片交換方法 55-57 |
第二作者 |
2013.05.03 ~ 2013.05.03 |
| 第11屆台灣靜電放電防護技術暨可靠度技術研討會 |
中華民國新竹市 |
A Substrate and Gate Triggering NMOS ESD Protection Device |
第一作者 |
2012.11.05 ~ 2012.11.07 |
| 第11屆台灣靜電放電防護技術暨可靠度技術研討會 |
中華民國新竹市 |
氧化鋅薄膜電阻轉換之可靠度特性 |
第四(以上)作者 |
2012.11.05 ~ 2012.11.07 |
| 2011 Taiwan ESD and Reliability Conference |
台灣，中華民國Hsinchu |
高壓製程中具有直流高保持電壓整合矽控整流器的靜電防護雙極電晶體 |
第一作者 |
2011.10.31 ~ 2011.11.02 |
| 2011 Taiwan ESD and Reliability Conference |
台灣，中華民國Hsinchu |
0.18μm製程中靜電防護之用具有NMOS開關整合矽控整流器之雙極電晶體電路 |
第一作者 |
2011.10.31 ~ 2011.11.02 |
| 2011 Taiwan ESD and Reliability Conference |
台灣，中華民國Hsinchu |
氧化鋅電阻式記憶體的電性量測與可靠度特性分析 |
第四作者 |
2011.10.31 ~ 2011.11.02 |
| 2011 Taiwan ESD and Reliability Conference |
台灣，中華民國Hsinchu |
氧化鎂薄膜電阻式記憶體之電性研究與可靠度特性 |
第四作者 |
2011.10.31 ~ 2011.11.02 |
| 18th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits |
韓國Songdo Convensia |
Reliability characterizations of resistive switching devices using zinc oxide thin film |
第四作者 |
2011.07.04 ~ 2011.07.07 |
| 18th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits |
韓國Songdo Convensia |
Conduction mechanisms and reliability characteristics in MgO resistive switching memory devices |
第四作者 |
2011.07.04 ~ 2011.07.07 |
| 18th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits |
韓國Songdo Convensia |
Reliability characteristics of cerium dioxide thin films |
第三作者 |
2011.07.04 ~ 2011.07.07 |
| The 23rd International Microprocesses and Nanotechnology Conference |
JapanFukuoka |
Current Transportation and Reliability Characterization of CeO2 thin film |
第四作者 |
2010.11.09 ~ 2010.11.12 |
| 2010 Taiwan ESD and Reliability Conference |
TaiwanHsinchu |
靜電防護N型金氧半場效電晶體之分散式短路與置入接觸點佈局設計 |
第一作者 |
2010.10.25 ~ 2010.10.27 |
| 銘傳大學2010 國際學術研討會 |
台灣，中華民國桃園縣 |
埋藏矽控整流器之雙極電晶體靜電防護及鎖定免疫的最佳化 |
第一作者 |
2010.03.12 ~ 2010.03.12 |
| 2009 Taiwan Electrostatic Discharge Conference |
台灣，中華民國新竹 |
高壓製程中具有高靜電防護及鎖定免疫的埋藏矽控整流器之雙極電晶體 |
第一作者 |
2009.10.26 ~ 2009.10.28 |
| IEEE 16th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits |
NATCHN-中國大陸Suzhou |
A SCR-Buried BJT Device for Robust ESD Protection with High Latchup Immunity in High-Voltage Technology |
第一作者 |
2009.07.06 ~ 2009.07.10 |
| 16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits |
ChinaSuzhou |
A SCR-Buried BJT Device for Robust ESD Protection with High Latchup Immunity in High-Voltage Technology |
第一作者 |
2009.07.06 ~ 2009.07.10 |
| 第七屆微電子技術發展與應用研討會 |
TaiwanKaoshiung |
A SCR-Buried BJT ESD Protection Circuit with Variable Holding Voltage in 0.18μm CMOS Technology |
第一作者 |
2009.05.22 ~ 2009.05.22 |
| 2009第七屆微電子技術發展與應用研討會 |
NATTWN-台灣，中華民國Kaoshiung |
A SCR-Buried BJT ESD Protection Circuit with Variable Holding Voltage in 0.18μm CMOS Technology |
第一作者 |
2009.05.22 ~ 2009.05.22 |
| The 7th Conference on Communication Applications |
TaiwanTaipei |
低雜訊放大器設計應用於無線通訊 |
第二作者 |
2009.03.20 ~ 2009.03.20 |
| 2008 Taiwan ESD Conference |
NATTWN-台灣，中華民國新竹 |
Improvement of Inserted Substrate Pickup Layout Style in an ESD NMOS Device |
第一作者 |
2008.11.03 ~ 2008.11.05 |
| 第6屆台灣靜電放電防護技術研討會 新竹 |
台灣，中華民國新竹 |
An RC-Invereter-Substrate-and-Gate-Triggering Design for NMOS ESD Protection Device |
第一作者 |
2007.11.05 ~ 2007.11.07 |
| 第五屆台灣靜電放電防護技術研討會 |
台灣，中華民國新竹 |
A Substrate and Gate Triggering Design for NMOS ESD Protection Device |
第一作者 |
2006.11.06 ~ 2006.11.08 |
| 第四屆台灣靜電放電防護技術研討會2005 Taiwan ESD Conference, Hsinchu Taiwan. |
台灣新竹 |
Influence of Substrate Pickup on ESD NMOS Robustness |
第一作者 |
2005.11.14 ~ 2005.11.16 |
