中國材料科學學會111年會 |
中華民國苗栗 |
一種低成本磁控濺鍍製備之透明導電薄膜 |
第一作者 |
2022.11.18 ~ 2022.11.19 |
2022年創新與永續科技國際研討會 |
中華民國台南 |
A Novel CMOS Low-Noise Amplifier with Vertically Coiled Solenoid Inductors |
第一作者 |
2022.10.27 ~ 2022.10.28 |
第四十一屆中華民國電力工程研討會 |
中華民國台北市 |
一種使用新型封裝電感之高效率降壓轉換器 |
第一作者 |
2020.09.03 ~ 2020.09.04 |
2016光電與智慧電子研討會 |
中華民國中壢 |
Transparent conductive ZZO/Ir/ ZZO multilayer fabricated at room temperature |
第一作者 |
2016.06.03 ~ 2016.06.03 |
ACENS 2015 |
日本東京 |
Flexible and transparent conductive ZZO/Ag/ ZZO multilayer fabricated by sputtering at room temperature |
第一作者 |
2015.02.03 ~ 2015.02.05 |
ACMM 23 & ICONN 2014 |
澳大利亞Adelaide |
A Metal–Insulator–Metal Capacitor Using a Fully Silicided Amorphous Silicon Bottom Electrode and Laser Annealing |
第一作者 |
2014.02.02 ~ 2014.02.06 |
2013光電與通訊研討會 |
中華民國桃園縣中壢市 |
Transparent Conductive Nb-Doped TiO2 Films Activated by Laser Annealing |
第一作者 |
2013.05.03 ~ 2013.05.03 |
International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology Proceedings, ICSICT |
ChinaShanghai |
New Metal-Insulator-Metal Capacitor based on SrTiO3/Al2O3/SrTiO3 laminate dielectric |
第一作者 |
2010.11.01 ~ 2010.11.04 |
真空科技年會 2009 |
台灣虎尾 |
Work Function Tuning in Fully Nickel-Silicided Polysilicon Gates |
第一作者 |
2009.12.18 ~ 2009.12.18 |
真空科技年會 2009 |
台灣虎尾 |
Work Function Tuning by Doping Different Impurties in Fully Titaniun-Silicided Polysilicon Gates |
第一作者 |
2009.12.18 ~ 2009.12.18 |
台灣真空學會2009年度會議暨論文發表會 |
NATTWN-台灣,中華民國雲林縣 |
Work Function Tuning by Doping Different Impurities in Fully Titaniun-Silicided Polysilicon Gates |
第一作者 |
2009.12.18 ~ 2009.12.18 |
台灣真空學會2009年度會議暨論文發表會 |
NATTWN-台灣,中華民國雲林縣 |
Work Function Tuning in Fully Nickel-Silicided Polysilicon Gates |
第一作者 |
2009.12.18 ~ 2009.12.18 |
SNDT 2007, Hsinchu |
台灣,中華民國新竹 |
Characterization of Leakage Current in MIM Structure with High-K Dielectric by the Nonlinear Charging-Then-Decay Method |
第一作者 |
2007.05.09 ~ 2007.05.15 |
2nd International WorkShop on NEW GROUP IV SEMICONDUCTOR NANOELECTRONICS Tohoku University |
日本仙台 |
Current Voltage Characterization in MIM Capacitor with High-K Dielectric by the Nonlinear RC Decay Method |
第一作者 |
2006.10.02 ~ 2006.10.03 |