中国材料科学学会111年会 |
中华民国苗栗 |
一种低成本磁控溅镀制备之透明导电薄膜 |
第一作者 |
2022.11.18 ~ 2022.11.19 |
2022年创新与永续科技国际研讨会 |
中华民国台南 |
A Novel CMOS Low-Noise Amplifier with Vertically Coiled Solenoid Inductors |
第一作者 |
2022.10.27 ~ 2022.10.28 |
第四十一届中华民国电力工程研讨会 |
中华民国台北市 |
一种使用新型封装电感之高效率降压转换器 |
第一作者 |
2020.09.03 ~ 2020.09.04 |
2016光电与智慧电子研讨会 |
中华民国中坜 |
Transparent conductive ZZO/Ir/ ZZO multilayer fabricated at room temperature |
第一作者 |
2016.06.03 ~ 2016.06.03 |
ACENS 2015 |
日本东京 |
Flexible and transparent conductive ZZO/Ag/ ZZO multilayer fabricated by sputtering at room temperature |
第一作者 |
2015.02.03 ~ 2015.02.05 |
ACMM 23 & ICONN 2014 |
澳大利亚Adelaide |
A Metal–Insulator–Metal Capacitor Using a Fully Silicided Amorphous Silicon Bottom Electrode and Laser Annealing |
第一作者 |
2014.02.02 ~ 2014.02.06 |
2013光电与通讯研讨会 |
中华民国桃园县中坜市 |
Transparent Conductive Nb-Doped TiO2 Films Activated by Laser Annealing |
第一作者 |
2013.05.03 ~ 2013.05.03 |
International Conference on Solid-State and Integrated Circuits Technology Proceedings, ICSICT |
ChinaShanghai |
New Metal-Insulator-Metal Capacitor based on SrTiO3/Al2O3/SrTiO3 laminate dielectric |
第一作者 |
2010.11.01 ~ 2010.11.04 |
真空科技年会 2009 |
台湾虎尾 |
Work Function Tuning in Fully Nickel-Silicided Polysilicon Gates |
第一作者 |
2009.12.18 ~ 2009.12.18 |
真空科技年会 2009 |
台湾虎尾 |
Work Function Tuning by Doping Different Impurties in Fully Titaniun-Silicided Polysilicon Gates |
第一作者 |
2009.12.18 ~ 2009.12.18 |
台湾真空学会2009年度会议暨论文发表会 |
NATTWN-台湾,中华民国云林县 |
Work Function Tuning by Doping Different Impurities in Fully Titaniun-Silicided Polysilicon Gates |
第一作者 |
2009.12.18 ~ 2009.12.18 |
台湾真空学会2009年度会议暨论文发表会 |
NATTWN-台湾,中华民国云林县 |
Work Function Tuning in Fully Nickel-Silicided Polysilicon Gates |
第一作者 |
2009.12.18 ~ 2009.12.18 |
SNDT 2007, Hsinchu |
台湾,中华民国新竹 |
Characterization of Leakage Current in MIM Structure with High-K Dielectric by the Nonlinear Charging-Then-Decay Method |
第一作者 |
2007.05.09 ~ 2007.05.15 |
2nd International WorkShop on NEW GROUP IV SEMICONDUCTOR NANOELECTRONICS Tohoku University |
日本仙台 |
Current Voltage Characterization in MIM Capacitor with High-K Dielectric by the Nonlinear RC Decay Method |
第一作者 |
2006.10.02 ~ 2006.10.03 |